Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /
Tallennettuna:
| OCLC: | 48217405 |
|---|---|
| Päätekijä: | |
| Yhteisötekijä: | |
| Kieli: | English |
| Julkaistu: |
2000.
|
| Aiheet: | |
| Aineistotyyppi: | Opinnäyte Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Ulkoasu: | 1 v. (various pagings) : ill. ; 24 cm. |
|---|---|
| Bibliografia: | Includes bibliographical references. |
| Julkaisupaikka: | Sweden. |