Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /
Αποθηκεύτηκε σε:
| OCLC: | 48217405 |
|---|---|
| Κύριος συγγραφέας: | |
| Συγγραφή απο Οργανισμό/Αρχή: | |
| Γλώσσα: | English |
| Έκδοση: |
2000.
|
| Θέματα: | |
| Μορφή: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Φυσική περιγραφή: | 1 v. (various pagings) : ill. ; 24 cm. |
|---|---|
| Βιβλιογραφία: | Includes bibliographical references. |
| Τόπος έκδοσης: | Sweden. |