Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /

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Bibliographische Detailangaben
OCLC:48217405
1. Verfasser: Mannelquist, Anders
Körperschaft: Luleå University of Technology
Sprache:English
Veröffentlicht: 2000.
Schlagworte:
near-field scanning optimal microscopy > atomic force microscopy > fractal characterization.
Format:

Abschlussarbeit Monograph

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Beschreibung
Beschreibung:1 v. (various pagings) : ill. ; 24 cm.
Bibliographie:Includes bibliographical references.
Erscheinungsort:Sweden.

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