Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /
সংরক্ষণ করুন:
| OCLC: | 48217405 |
|---|---|
| প্রধান লেখক: | |
| সংস্থা লেখক: | |
| ভাষা: | English |
| প্রকাশিত: |
2000.
|
| বিষয়গুলি: | |
| বিন্যাস: | গবেষণাপত্র Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| দৈহিক বর্ননা: | 1 v. (various pagings) : ill. ; 24 cm. |
|---|---|
| গ্রন্থ-পঞ্জী: | Includes bibliographical references. |
| প্রকাশনার স্থান: | Sweden. |