Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods /

محفوظ في:
التفاصيل البيبلوغرافية
OCLC:48217405
المؤلف الرئيسي: Mannelquist, Anders
مؤلف مشترك: Luleå University of Technology
اللغة:English
منشور في: 2000.
الموضوعات:
near-field scanning optimal microscopy > atomic force microscopy > fractal characterization.
التنسيق:

أطروحة Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

الوصف
وصف مادي:1 v. (various pagings) : ill. ; 24 cm.
بيبلوغرافيا:Includes bibliographical references.
مكان النشر:Sweden.

مواد مشابهة