Mannelquist, A. (2000). Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods.
Trích dẫn kiểu Chicago (xuất bản lần thứ 7)Mannelquist, Anders. Near-field Scanning Optimal Microscopy and Fractal Characterization with Atomic Force Microscopy and Other Methods. 2000.
Trích dẫn kiểu MLA (xuất bản lần thứ 8)Mannelquist, Anders. Near-field Scanning Optimal Microscopy and Fractal Characterization with Atomic Force Microscopy and Other Methods. 2000.
Cảnh báo: Các trích dẫn này có thể không phải lúc nào cũng chính xác 100%.