Mannelquist, A. (2000). Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods.
Cytowanie według stylu Chicago (wyd. 17)Mannelquist, Anders. Near-field Scanning Optimal Microscopy and Fractal Characterization with Atomic Force Microscopy and Other Methods. 2000.
Cytowanie według stylu MLA (wyd. 8)Mannelquist, Anders. Near-field Scanning Optimal Microscopy and Fractal Characterization with Atomic Force Microscopy and Other Methods. 2000.
Uwaga: Te cytaty mogą odróżniać się od wytycznej twojego fakultetu..