Mannelquist, A. (2000). Near-field scanning optimal microscopy and fractal characterization with atomic force microscopy and other methods.
توثيق أسلوب شيكاغو (الطبعة السابعة عشر)Mannelquist, Anders. Near-field Scanning Optimal Microscopy and Fractal Characterization with Atomic Force Microscopy and Other Methods. 2000.
توثيق جمعية اللغة المعاصرة MLA (الطبعة الثامنة)Mannelquist, Anders. Near-field Scanning Optimal Microscopy and Fractal Characterization with Atomic Force Microscopy and Other Methods. 2000.
تحذير: قد لا تكون هذه الاستشهادات دائما دقيقة بنسبة 100%.