Ellipsometrische Untersuchungen an Halbleitern und Halbleiteroberflächen mit Folgerungen zum Mechanismus des elektronischen Transports heisser Ladungsträger /
Saved in:
| OCLC: | 46101842 |
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| Main Author: | |
| Corporate Author: | |
| Language: | German |
| Published: |
Stuttgart :
1991.
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| Subjects: | |
| Format: | Thesis Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Physical Description: | 373 S. m. zahlr. Abb : Ill., graph. Darst. |
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| Place of Publication: | Germany. |