Untersuchung zum Rauschverhalten von Mikrowelle-Oszillatoren mit Galliumarsenid-Feldeffekttransistoren /

Zapisane w:
Opis bibliograficzny
OCLC:52191236
1. autor: Siweris, Heinz Jürgen
Korporacja: Ruhr-Universität Bochum
Język:German
Wydane: Germany : Ruhr-Universität Bochum, 1986.
Format:

Praca dyplomowa Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Borrow this resource

Item List

Opis Local Call Number Status
P-00124347 Dostępne