Electron microscopy and structure models of defects in NB-Ge superconductors /
Сохранить в:
| OCLC: | 54517635 |
|---|---|
| Главный автор: | |
| Соавтор: | |
| Язык: | English |
| Опубликовано: |
1987.
|
| Формат: | Thesis Monograph Microform Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Объем: | 3 microfiches. |
|---|---|
| Поместить публикацию: | Switzerland. |