Electron microscopy and structure models of defects in NB-Ge superconductors /
Zapisane w:
| OCLC: | 54517635 |
|---|---|
| 1. autor: | |
| Korporacja: | |
| Język: | English |
| Wydane: |
1987.
|
| Format: | Praca dyplomowa Monograph Microform Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Opis fizyczny: | 3 microfiches. |
|---|---|
| Miejsce wydania: | Switzerland. |