Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /
Enregistré dans:
| OCLC: | 18379314 |
|---|---|
| Auteur principal: | |
| Langue: | Polish |
| Publié: |
Warszawa :
Wydawn. Politechniki Warszawskiej,
1980.
|
| Collection: | Prace naukowe. Chemia ;
z. 22. |
| Sujets: | |
| Format: | Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |