Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /
Spremljeno u:
| OCLC: | 18379314 |
|---|---|
| Glavni autor: | |
| Jezik: | Polish |
| Izdano: |
Warszawa :
Wydawn. Politechniki Warszawskiej,
1980.
|
| Serija: | Prace naukowe. Chemia ;
z. 22. |
| Teme: | |
| Format: | Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| LEADER | 01470cam a2200361 a 4500 | ||
|---|---|---|---|
| 001 | in00005478371 | ||
| 003 | OCoLC | ||
| 005 | 19940524125448.0 | ||
| 008 | 880729s1980 pl a b 000 0 pol | ||
| 010 | |a 81115225 | ||
| 035 | |a (OCoLC)18379314 | ||
| 040 | |a DLC |c DLC |d CRL | ||
| 041 | 0 | |a pol |b eng |b rus | |
| 049 | |a CRLL | ||
| 099 | |a C-29365 | ||
| 100 | 1 | |a Brudzewski, Kazimierz. | |
| 245 | 1 | 0 | |a Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu / |c Kazimierz Brudzewski. |
| 260 | |a Warszawa : |b Wydawn. Politechniki Warszawskiej, |c 1980. | ||
| 300 | |a 83 p. : |b ill. ; |c 24 cm. | ||
| 336 | |a text |b txt |2 rdacontent. | ||
| 337 | |a unmediated |b n |2 rdamedia. | ||
| 338 | |a volume |b nc |2 rdacarrier. | ||
| 490 | 1 | |a Prace naukowe / Politechnika Warszawska. Chemia, |x 0137-2300 ; |v z. 22. | |
| 500 | |a Caption title. | ||
| 500 | |a Summary in English and Russian. | ||
| 504 | |a Bibliography: p. 71-73. | ||
| 650 | 0 | |a Thin films |x Electric properties. | |
| 650 | 0 | |a Ellipsometry. | |
| 830 | 0 | |a Prace naukowe. |p Chemia ; |v z. 22. | |
| 907 | |a .b13996435 |b 12-02-21 |c 05-24-94 | ||
| 998 | |a crlm |b 05-24-94 |c m |d - |e - |f pol |g pl |h 0 |i 1 | ||
| 999 | f | f | |i 0008a2fe-af6c-596f-b4e8-d399d132a03f |s 9c0ac733-754d-50ae-94fb-63360d8bc7c8 |t 0 |