Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /

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Detalles Bibliográficos
OCLC:18379314
Autor Principal: Brudzewski, Kazimierz
Idioma:Polish
Publicado: Warszawa : Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
Series:Prace naukowe. Chemia ; z. 22.
Subjects:
Thin films > Electric properties.
Ellipsometry.
Formato:

Monograph

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Descripción
descrición da copia:Caption title.
Summary in English and Russian.
Descrición Física:83 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliografía:Bibliography: p. 71-73.
ISSN:0137-2300 ;

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