Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /

Gorde:
Xehetasun bibliografikoak
OCLC:18379314
Egile nagusia: Brudzewski, Kazimierz
Hizkuntza:Polish
Argitaratua: Warszawa : Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
Saila:Prace naukowe. Chemia ; z. 22.
Gaiak:
Thin films > Electric properties.
Ellipsometry.
Formatua:

Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Deskribapena
Alearen deskribapena:Caption title.
Summary in English and Russian.
Deskribapen fisikoa:83 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliografia:Bibliography: p. 71-73.
ISSN:0137-2300 ;

Antzeko izenburuak