Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /

Saved in:
Bibliographic Details
OCLC:18379314
Main Author: Brudzewski, Kazimierz
Language:Polish
Published: Warszawa : Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
Series:Prace naukowe. Chemia ; z. 22.
Subjects:
Thin films > Electric properties.
Ellipsometry.
Format:

Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Description
Item Description:Caption title.
Summary in English and Russian.
Physical Description:83 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliography:Bibliography: p. 71-73.
ISSN:0137-2300 ;

Similar Items