Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /
Αποθηκεύτηκε σε:
| OCLC: | 18379314 |
|---|---|
| Κύριος συγγραφέας: | |
| Γλώσσα: | Polish |
| Έκδοση: |
Warszawa :
Wydawn. Politechniki Warszawskiej,
1980.
|
| Σειρά: | Prace naukowe. Chemia ;
z. 22. |
| Θέματα: | |
| Μορφή: | Monograph Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows. |
| Περιγραφή τεκμηρίου: | Caption title. Summary in English and Russian. |
|---|---|
| Φυσική περιγραφή: | 83 p. : ill. ; 24 cm. |
| Βιβλιογραφία: | Bibliography: p. 71-73. |
| ISSN: | 0137-2300 ; |