Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
OCLC:18379314
1. Verfasser: Brudzewski, Kazimierz
Sprache:Polish
Veröffentlicht: Warszawa : Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
Schriftenreihe:Prace naukowe. Chemia ; z. 22.
Schlagworte:
Thin films > Electric properties.
Ellipsometry.
Format:

Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Beschreibung
Beschreibung:Caption title.
Summary in English and Russian.
Beschreibung:83 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliographie:Bibliography: p. 71-73.
ISSN:0137-2300 ;

Ähnliche Einträge