Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu /

Uloženo v:
Podrobná bibliografie
OCLC:18379314
Hlavní autor: Brudzewski, Kazimierz
Jazyk:Polish
Vydáno: Warszawa : Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
Edice:Prace naukowe. Chemia ; z. 22.
Témata:
Thin films > Electric properties.
Ellipsometry.
Médium:

Monograph

Note that CRL will digitize material from the collection when copyright allows.

Popis
Popis jednotky:Caption title.
Summary in English and Russian.
Fyzický popis:83 p. : ill. ; 24 cm.
Bibliografie:Bibliography: p. 71-73.
ISSN:0137-2300 ;

Podobné jednotky