Brudzewski, K. (1980). Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu. Wydawn. Politechniki Warszawskiej.
Chicago Style (17th ed.) CitationBrudzewski, Kazimierz. Elipsometryczna Analiza Zjawisk Mechanooptycznych Indukowanych W Cienkich Warstwach Silnym Polem Elektrycznym Na Przykładzie Tlenków Wolframu. Warszawa: Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
MLA引文Brudzewski, Kazimierz. Elipsometryczna Analiza Zjawisk Mechanooptycznych Indukowanych W Cienkich Warstwach Silnym Polem Elektrycznym Na Przykładzie Tlenków Wolframu. Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
警告:這些引文格式不一定是100%准確.