Brudzewski, K. (1980). Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu. Wydawn. Politechniki Warszawskiej.
Citação norma ChicagoBrudzewski, Kazimierz. Elipsometryczna Analiza Zjawisk Mechanooptycznych Indukowanych W Cienkich Warstwach Silnym Polem Elektrycznym Na Przykładzie Tlenków Wolframu. Warszawa: Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
Citação norma MLABrudzewski, Kazimierz. Elipsometryczna Analiza Zjawisk Mechanooptycznych Indukowanych W Cienkich Warstwach Silnym Polem Elektrycznym Na Przykładzie Tlenków Wolframu. Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
Nota: a formatação da citação pode não corresponder 100% ao definido pela respectiva norma.