Brudzewski, K. (1980). Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu. Wydawn. Politechniki Warszawskiej.
Chicago Style (17th ed.) CitationBrudzewski, Kazimierz. Elipsometryczna Analiza Zjawisk Mechanooptycznych Indukowanych W Cienkich Warstwach Silnym Polem Elektrycznym Na Przykładzie Tlenków Wolframu. Warszawa: Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
ציטוט MLABrudzewski, Kazimierz. Elipsometryczna Analiza Zjawisk Mechanooptycznych Indukowanych W Cienkich Warstwach Silnym Polem Elektrycznym Na Przykładzie Tlenków Wolframu. Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
אזהרה: ציטוטים אלה לעיתים לא מדויקים ב 100%.