Brudzewski, K. (1980). Elipsometryczna analiza zjawisk mechanooptycznych indukowanych w cienkich warstwach silnym polem elektrycznym na przykładzie tlenków wolframu. Wydawn. Politechniki Warszawskiej.
Citación estilo ChicagoBrudzewski, Kazimierz. Elipsometryczna Analiza Zjawisk Mechanooptycznych Indukowanych W Cienkich Warstwach Silnym Polem Elektrycznym Na Przykładzie Tlenków Wolframu. Warszawa: Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
Cita MLABrudzewski, Kazimierz. Elipsometryczna Analiza Zjawisk Mechanooptycznych Indukowanych W Cienkich Warstwach Silnym Polem Elektrycznym Na Przykładzie Tlenków Wolframu. Wydawn. Politechniki Warszawskiej, 1980.
Warning: These citations may not always be 100% accurate.